Upphandling: Focused Ion Beam, Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) | Lunds universitet, Lund

Focused Ion Beam, Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)

Lunds universitet, Lund

Lund Nano Lab (LNL) at Lund University intends to purchase a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope, in this document referred to as the FIB-SEM, instrument or equipment. The instrument is intended to be used for high-resolution imaging, materials analysis and preparing samples for TEM analysis as well as for experiments at the MAX IV synchrotron.

Sista anbudsdag

Anbudstiden utgått (2026-08-24)

Förfarande

Öppet

Publicerad

2026-07-02

Dokumenttyp

Meddelande om upphandling

Leveransorter

Skåne län

Diarie-/referensnummer

V 2026/244

Ta del av den kompletta annonsen i Opic

Genom att logga in i Opic får du tillgång till den kompletta annonsen. Har du inte ett konto kan du enkelt skapa ett gratis gästkonto.

Prova Opic Upphandlingskoll gratis!

Missa inga affärer inom offentlig sektor med Opic Upphandlingskoll:

Sveriges mest använda bevakningstjänst
Tillgång till alla annonserade svenska upphandlingar
Smarta verktyg, sök- och filtreringsmöjligheter
Se i vilka upphandlingar dina konkurrenter deltar, vem som vann och avtalstider
Kostnadsfri support och svar på upphandlingsfrågor

Prova gratis i 14 dagar - ingen bindningstid

Sök bland offentliga upphandlingar i hela Sverige

Focused Ion Beam, Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)

Lunds universitet, Lund

Prova Opic Upphandlingskoll gratis!